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水处理基本知识 半导体工业超纯水配套
浏览:  日期:2026-02-05
半导体工业对超纯水的水质要求为电子级超纯水(国标 GB/T 11446.1-2013,等级 1~3 级),是所有工业用水中要求最高的品类,核心要求为无离子、无微粒、无细菌、无有机物、无溶解氧,电阻率≥18.2MΩ・cm (25℃)、TOC≤10ppb、微粒 (≥0.05μm)≤10 个 / L。
本文先梳理水处理通用基本知识,再聚焦半导体超纯水的配套工艺、核心单元、水质控制要点,适配半导体晶圆制造、芯片封装、光伏硅片等场景的超纯水系统设计与运维。

一、水处理通用核心基本知识

1. 水处理核心水质指标(半导体超纯水重点关注标红项)

是判断水质、选择工艺的基础,半导体超纯水对电阻率、TOC、微粒、细菌、硅、金属离子要求严苛:

2. 水处理核心工艺分类(按功能划分,超纯水为多工艺组合)

所有水处理系统均为 “单元工艺按需组合”,半导体超纯水是预处理 + 深度处理 + 精处理 + 循环回用的全流程组合,各工艺核心功能如下:
工艺类别核心功能主流单元工艺超纯水应用场景
预处理去除悬浮物、胶体、余氯、浊度,降低后续工艺负荷多介质过滤、活性炭过滤、精密过滤、超滤(UF)、软化、加药絮凝超纯水系统前端,将自来水 / 原水处理为 “预处理水”(浊度<0.1NTU、余氯<0.01mg/L)
脱盐深度处理去除 99% 以上离子、TDS,提升电阻率反渗透(RO)、纳滤(NF)、电渗析(ED)、电去离子(EDI)超纯水核心脱盐单元,RO+EDI 组合是半导体超纯水标配
精处理 / 抛光处理去除微量离子、TOC、微粒、细菌,达到电子级标准混床离子交换、TOC 降解器、紫外线氧化(UV)、精密 / 超滤膜、终端微滤 / 纳滤超纯水深度抛光,确保出水电阻率≥18.2MΩ・cm
后处理 / 循环维持出水水质,防止二次污染脱气膜(脱 DO/CO₂)、恒压供水、循环管路(UPVC/PTFE)、紫外线杀菌(UV)超纯水出水端至用水点,保证输送过程水质不衰减

3. 水处理核心分离原理

超纯水的核心是 **“分离 + 去除”,所有单元工艺均基于以下 4 种核心原理,半导体超纯水以膜分离、离子交换、氧化分解、吸附 ** 为主:

二、半导体工业超纯水配套核心体系

半导体超纯水系统的核心要求是 **“水质达标、持续稳定、连续供水、循环回用”,因为半导体生产中水质波动会直接导致晶圆缺陷、芯片报废,系统整体为“原水→预处理→一级脱盐→二级脱盐→精处理 / 抛光→后处理→用水点→回用水处理→循环”** 的闭环流程,以下是各环节核心设计、工艺和设备。

1. 半导体超纯水系统整体工艺流程图(标配版,适配晶圆制造)

自来水 / 工业原水 → 多介质过滤(MMF) → 活性炭过滤(ACF) → 精密过滤(5μm/1μm) → 一级反渗透(ROⅠ) → 二级反渗透(ROⅡ) → 电去离子(EDI) → 混床(抛光) → UV-TOC 降解器 → 脱气膜(脱 DO/CO₂) → 终端超滤(UF,0.02μm) → 半导体生产用水点 → 回用水(浓水 / 尾水) → 回用水处理系统 → 反渗透进水循环
注:封装测试类半导体产线可适当简化(如单级 RO+EDI + 精处理),晶圆制造(12 英寸 / 先进制程)需增加超纯化柱、终端微滤等抛光单元。

2. 各环节核心单元工艺(半导体超纯水专属要求 + 设备)

(1)预处理单元:超纯水的 “基础保障”,杜绝后续工艺污染 / 堵塞

核心目标:去除原水中的 SS、胶体、余氯、有机物、硬度,防止余氯氧化 RO 膜 / EDI 树脂,防止胶体 / 悬浮物堵塞膜组件,预处理出水需满足:浊度<0.05NTU、余氯<0.01mg/L、SDI(污染指数)<3、硬度≈0。

(2)脱盐核心单元:RO+EDI(半导体超纯水标配脱盐组合)

核心目标:去除水中 99.9% 以上的离子、TDS、TOC,将电阻率提升至15~18MΩ·cm,是超纯水脱盐的核心,替代传统 “离子交换床”(避免酸碱再生污染)。

(3)精处理 / 抛光单元:达到 18.2MΩ・cm 电子级标准

核心目标:去除 EDI 出水的微量离子、微量 TOC、微粒、细菌,将电阻率提升至 **≥18.2MΩ・cm(25℃)**,TOC≤10ppb,满足半导体最高水质要求,又称 “超纯化单元”。

(4)后处理与循环单元:防止输送过程水质衰减

半导体超纯水的用水点与超纯水系统的距离会导致水质下降(如管路溶出离子、空气中的 CO₂/O₂溶入、细菌滋生),因此必须配备后处理和循环系统,核心设计:

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